禾雨

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2019年12月10日 #

uvm_config_db

摘要： The <uvm_config_db> class provides a convenience interface on top of the <uvm_resource_db> to simplify the basic interface that is used for configurin 阅读全文

posted @ 2019-12-10 14:21 禾雨 阅读(303) 评论(0) 推荐(0) 编辑

BIST测试技术，内建自测（Built-inSelfTest）

摘要： 【转载】http://www.hudong.com/wiki/BIST Built-inSelfTest简称BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。BIST是一种DFT（DesignforTestability）技术， 阅读全文

posted @ 2019-12-10 10:48 禾雨 阅读(3330) 评论(0) 推荐(0) 编辑