BIST测试技术，内建自测（Built-inSelfTest）
【转载】http://www.hudong.com/wiki/BIST
Built-inSelfTest简称BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。BIST是一种DFT（DesignforTestability）技术，它可以应用于几乎所有电路，因此在半导体工业被广泛应用。举例来说，在DRAM中普遍使用的BIST技术包括在电路中植入测试图形发生电路，时序电路，模式选择电路和调试测试电路。BIST技术的快速发展很大的原因是由于居高不下的ATE成本和电路的高复杂度。现在，高度集成的电路被广泛应用，测试这些电路需要高速的混合信号测试设备。BIST技术可以通过实现自我测试从而减少对ATE的需求。
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BIST测试SRAM时要必须保证对所有端口可控
一个正常的SRAM一般包含如下几类端口：
Clock(Read/Write Clock)
Chip Select(Chip Enable)
Data (Input Data / Output Data)
Write Enable / Read Enable
Test Port
Bypass Enable
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不同的工艺厂商给出的SRAM不一定都含有上述的端口。有些SRAM可能不包含Test Port 和 Bypass Enable。
在BIST对SRAM进行测试的时候，由于SRAM的每个端口都有特定的含义，所以，
