摘要：
基本常识： （1）Hot switch好的程序应避免使用热切换（这里热的含义类似于热插拔的“热“），热切换是指带点操作，有电流的情况下断开开关或闭合开关的瞬间，有电流通过，这会减少开关的寿命甚至直接损坏开关。 （2）Latch-up 闩锁效应，由于在信号，电源或地等管脚上施加了错误的电压，在CMOS 阅读全文
摘要：
开短路测试 测试目的 测试方法 DC测试或功能测试 这里先考虑基于PMU的Open-short测试，首先将所有的引脚接地清0，接着连接PMU到单个的DUT管脚，并驱动电流顺着偏置方向经过管脚的保护二极管，负向的电流会流经连接到地的二极管，而正向的电流会流经连接到电源的二极管。我们控制电流，由于电流流 阅读全文