摘要:
基本常识: (1)Hot switch好的程序应避免使用热切换(这里热的含义类似于热插拔的“热“),热切换是指带点操作,有电流的情况下断开开关或闭合开关的瞬间,有电流通过,这会减少开关的寿命甚至直接损坏开关。 (2)Latch-up 闩锁效应,由于在信号,电源或地等管脚上施加了错误的电压,在CMOS 阅读全文
摘要:
开短路测试 测试目的 测试方法 DC测试或功能测试 这里先考虑基于PMU的Open-short测试,首先将所有的引脚接地清0,接着连接PMU到单个的DUT管脚,并驱动电流顺着偏置方向经过管脚的保护二极管,负向的电流会流经连接到地的二极管,而正向的电流会流经连接到电源的二极管。我们控制电流,由于电流流 阅读全文