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2021年10月28日
VLSI测试方法学和可测试设计 第6章 扫描路径法
摘要: 一,基本的扫描路径设计 二,部分扫描设计 1,隔离的串行扫描设计 2,非串行的扫描设计 三,扫描路径的测试方法 1,组合电路部分的测试生成 只对组合电路进行测试生成的前提是:(1)电路中没有异步信号,包括触发器的置位/复位信号;(2)锁存有非重叠的时钟控制;(3)测试生成时,信号传播结束点是触发器的
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posted @ 2021-10-28 14:11 斜月醉高楼
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