摘要：
第一 introduction to DFT 一，功能测试与结构测试的区别 二，IC设计流程 1，RTL设计 -> 2，功能验证 -> 3，逻辑设计，逻辑验证-> 4，DFT设计-> 5，逻辑综合，物理版图 -> 6，流片 三，工具对应的过程 DC 逻辑综合 scan insertion test 阅读全文
摘要：
第一 introduction To DFT 第二 DFT architecture 第三 SOC scan implementation 第五scan practice 第六 ATPG 第七 ATPG PRACTIUCE 第八 ATPG practice2 第九 JTAG 第十 IEEE 第十一 阅读全文