第一章 电路测试和可测性的基础
第二章 模拟在电路测试和分析的作用
第三章 组合电路的测试生成概念和算法
第四章 时序电路的测试模型和方法
第五章 可测性设计的专用设计技术
第六章 扫描路径法,电平敏华法
第七章 随机/伪随机测试电路的理论
第八章 边界扫描法
第九章 内建自测试
第十章 电流测试方法,IDDQ
第十一章 存储器的故障模型和测试方法
第十二章 SOC测试的基本问题