VLSI测试方法学和可测试设计 第0章 概述

第一章 电路测试和可测性的基础

第二章 模拟在电路测试和分析的作用

第三章  组合电路的测试生成概念和算法

第四章  时序电路的测试模型和方法

第五章 可测性设计的专用设计技术

第六章 扫描路径法,电平敏华法

第七章 随机/伪随机测试电路的理论

第八章 边界扫描法

第九章 内建自测试

第十章 电流测试方法,IDDQ

第十一章 存储器的故障模型和测试方法

第十二章 SOC测试的基本问题

 

posted @ 2021-10-19 15:46  斜月醉高楼  阅读(95)  评论(0编辑  收藏  举报