摘要：
本随笔整理于《从零开始学数字电子技术》 阅读全文
摘要：
把扫描路径法扩展到整个板级或系统级，此即边界扫描法（boundary scan）。边界扫描法是把扫描路径法扩展到整个板级或系统级，同扫描路径法类似，基于边界扫描设计法的元器件的 所有与外部交换的信息（指令、测试数据和测试结果）都采用串行通信方式，允许测试指令及相关的测试数据串行送给元器件，然后允许把 阅读全文
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一，基本的扫描路径设计 二，部分扫描设计 1，隔离的串行扫描设计 2，非串行的扫描设计 三，扫描路径的测试方法 1，组合电路部分的测试生成 只对组合电路进行测试生成的前提是：（1）电路中没有异步信号，包括触发器的置位/复位信号；（2）锁存有非重叠的时钟控制；（3）测试生成时，信号传播结束点是触发器的 阅读全文
摘要：
一，简介 测试生成：一是保证故障在其源处的再现，二是把故障效应传播到电路的某一原始输出 组合电路的测试生成是一个NP-complete 问题 所有的算法都基于4 个最主要的操作过程：激活（excitation）、敏化（sensitization）、确认（justification）和蕴涵（impli 阅读全文
摘要：
一，时间模拟和功能模拟 行为模拟 ：不带延迟的模拟，验证电路功能是否符合设计要求； 门级模拟：主要对逻辑综合和优化以后生成的网表文件进行模拟，模拟采用的库中包含单元延迟信息； 后模拟 ：布局布线并参数提取后的功能验证，带有所有延迟信息 二，逻辑模拟 编译模拟 ：模拟器把电路的网表转换成机器指令码序列 阅读全文
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一，故障检测的基本原理 用故障来描述电路中的错误，而用测试图形来检测故障。 二，测试图形的生成 对于组合电路，一个测试图形足以检测到一个故障；对于时序电路，需一组测试图形序列才可能检测到一个故障，因为对时序电路的故障效应进行传播前，需先把电路引导到确定状态 三，缺陷、失效和故障 硬失效和软失效。软失 阅读全文
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第一章 电路测试和可测性的基础 第二章 模拟在电路测试和分析的作用 第三章 组合电路的测试生成概念和算法 第四章 时序电路的测试模型和方法 第五章 可测性设计的专用设计技术 第六章 扫描路径法，电平敏华法 第七章 随机/伪随机测试电路的理论 第八章 边界扫描法 第九章 内建自测试 第十章 电流测试方 阅读全文
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第一 introduction to DFT 一，功能测试与结构测试的区别 二，IC设计流程 1，RTL设计 -> 2，功能验证 -> 3，逻辑设计，逻辑验证-> 4，DFT设计-> 5，逻辑综合，物理版图 -> 6，流片 三，工具对应的过程 DC 逻辑综合 scan insertion test 阅读全文
摘要：
第一 introduction To DFT 第二 DFT architecture 第三 SOC scan implementation 第五scan practice 第六 ATPG 第七 ATPG PRACTIUCE 第八 ATPG practice2 第九 JTAG 第十 IEEE 第十一 阅读全文