TAP 控制器 (Test Access Port Controller)
TAP and TAP Controller
Test Access Port (TAP)
这个是用来进行 JTAG 控制的接口，IEEE 标准规定了四个强制 TAP 信号以及一个可选信号，详见。
- TDI
- TDO
- TCK
- TMS
- TRST
TAP Controller
它控制着 JTAG 操作，它是由 16 个状态组成的有限状态 FSM，它的状态通过 TMS 信号、TCK 以及 TRST 进行控制，TAP 控制器的状态只有在 TCK 上升沿时改变，下一个状态由 TMS 逻辑电平以及当前所处状态机决定，如图所示:
上图从最外层查看了 TAP 控制器的信息。TMS、TCK 以及可选的 TRST 信号进入到有限状态机，基于 FSM 的不同状态产生不同的控制信号。这些输出信号包括对指令寄存器 IR 的专用控制信号: CaptureIR、Shift IR、UpdateIR；包括对数据寄存器 DR 的专用控制信号: CaptureDR、ShiftDR、UpdateDR。
下面对 TAP 控制器的各个状态进行简单的描述:
Test-Logic-Reset重置JTAG接口，无论TRST引脚信号是否被触发，都会进入到重置的状态。注意到无论TAP控制器处于何种状态，若TMS保持5个TCK的高电平，状态机都会回到这个状态。因此，如果我们没有TRST引脚，我们依然可以重置TAP状态机Run-Test/Idle这是一个稳态，有限状态机等待某种测试操作完成Select-DR/Scan与Select-IR/Scan这是一种暂态，允许测试数据队列初始化准备Capture-DR与Capture-IR这个状态下，数据可以并行的进入到相应的寄存器Shift-DR与Shift-IR这个状态下，测试数据串行输入到相应的寄存器Exit1-DR与Exit1-IR从Capture-DR、Capture-IR并行载入或串行载入数据的数据此时维持在寄存器中Pause-DR与Pause-IR有限状态机暂替他的功能，等待一些外部操作Exit2-DR与Exit2-IR这个状态下，表示Pause-DR或Pause-IR操作结束，允许TAP控制器来回到Shift-DR或Shift-IR状态来移入或移出更多的数据Update-DR与Update-IR当前触发器中的数据跳转进入到下一个触发器中
