DFT岗位
摘要：
DFT的全称是 Design For Test。 指的是在芯片原始设计中阶段即插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，通过这部分逻辑，生成测试向量，达到测试大规模芯片的目的。 Design--实现特定的辅助性设计，但要增加一定的硬件开销 For test--利用实现的辅助性 阅读全文
posted @ 2022-08-01 18:24 皮皮祥 阅读(322) 评论(0) 推荐(0) 编辑
2022年8月1日 #
IC验证代码覆盖率（code coverage）简析
摘要：
IC验证的时候会基于验证环境开发很多test case，但是如何衡量那些test case的质量? 或者说一个IP（或SOC）需要开发多少test case 才可以说这个IP（或SOC）的验证已经充分了？答案就是覆盖率。 覆盖率从大的方面分为两类，一类是功能覆盖率（function coverage 阅读全文
posted @ 2022-08-01 17:35 皮皮祥 阅读(3525) 评论(0) 推荐(0) 编辑