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2018年1月12日
性能测试总结
摘要: 1. 三者关系图 2. 结论 小并发数区间测试,找拐点(如:100-300并发持续5分钟,可以发现上图中200并发时出现拐点) 大并发数区间测试,找符合需求的最大并发数(如:1800-2200并发持续5分钟,可以找到满足响应时间在3秒内的最大并发数2000) 利用最大并发数,压测环境在极限时的资源消
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posted @ 2018-01-12 10:48 AlisaPan
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