天山明月

摘要： Design For testability DFT(Design for Test):可测试性设计（DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易， 这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构，例如 阅读全文