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2019年4月24日 #

边界扫描(boundary scan)

摘要: 边界扫描(Boundary scan )是一项测试技术,是在传统的在线测试不在适应大规模,高集成电路测试的情况下而提出的,就是在IC设计的过程中在IC的内部逻辑和每个器件引脚间放置移位寄存器(shift register).每个移位寄存器叫做一个CELL。这些CELL准许你去控制和观察每个输入/输出 阅读全文

posted @ 2019-04-24 16:29 那些城市那些花 阅读(3378) 评论(1) 推荐(0) 编辑

setup&hold

摘要: setup time:建立时间,也就是在时钟上升沿到来前,数据需要稳定的时间。hold time:保持时间,指的是在时钟上升沿到来后,数据还需要保持的时间。实际上设置setup time和hold time最根本的原因就是因为时钟的transition不是完美的toggle,而是会有一个变化的过程, 阅读全文

posted @ 2019-04-24 16:19 那些城市那些花 阅读(454) 评论(0) 推荐(0) 编辑

INTEST/EXTEST SCAN 的学习

摘要: intest scan的一些基本知识。INTEST scan指的是对IP 内部的scan cell的扫描测试,针对IP内部的flip-flop进行shift/capture的操作。和INTEST SCAN 对应的就是EXTEST SCAN, 顾名思义,所指的也就是IP之间的glue logic的SC 阅读全文

posted @ 2019-04-24 16:16 那些城市那些花 阅读(1381) 评论(0) 推荐(0) 编辑

IC 设计中DFT的Boundary Scan功能

摘要: 在很大规模的IC设计中,往往会有一些各种各样的bug出现,不论是在前期design的过程,还是在post silicon流片回来chip的flaw,都会导致chip的功能的失败,时钟频率无法达到期望频率。所以,在超大规模集成电路的设计中,DFT就是一门非常重要的方法学,在消费者手中,往往不知道他们的 阅读全文

posted @ 2019-04-24 16:07 那些城市那些花 阅读(1926) 评论(0) 推荐(0) 编辑