MBIST：用于嵌入式存储器的可测试设计技术
摘要：
MBist技术可以自动实现存储器单元或阵列的RTL级内建自测试电路，MBIST的EDA工具支持多种测试算法的自动实现，可针对一个或多个内嵌存储器自动创建BIST逻辑，并完成BIST逻辑与存储器的连接，此外MBIST结构中还可包括故障自动诊断功能，方便了故障定位和开发针对性测试向量。本文将介绍用于嵌入 阅读全文
posted @ 2018-10-24 17:41 那些城市那些花 阅读(2074) 评论(0) 推荐(0) 编辑