【无机纳米材料科研制图——OriginLab 0206】Origin绘制X射线衍射XRD堆叠图
此篇，我们分享另一个在材料领域会经常用到的XRD图绘制。
一、XRD堆叠图的绘制
1）准备数据。
这里，我们导入了两组XRD数据。
2）堆叠Y偏移。
因为我们准备绘制多条线堆叠在一起的折线图，因而，需要用到下图中的Y-偏移绘图。框选所有列之后，点击Plot——》Y-offset/Waterfall——》Stacked Lines by Y Offsets，即可绘制Y方向上偏移的堆叠多线条图。
如下图，可看到两条堆叠的折线，而其中第一条折线是对应于纵坐标的，但第二条曲线相对原值在Y方向上有5755.7的偏移量，这个是软件自动给出的一个比较适合的偏移量。
3）准备添加JCPDS粉末衍射标准卡片。
接下来，我们准备添加一组和数据相对应的JCPDS标准卡片的柱状图。一半这样的标准卡片是需要我们经过Jade软件进行对比分析导出的数据，这里，我们没有条件，因而自己编了几个数据，只为演示。
4）添加层级。
点击Graph——》New Layer（Axes）——》Top-X Right-Y（Linked Dimension），可添加一个上边框为X轴，右边框为Y轴的新层级。在图中边框外界空白处点击，也可弹出同样的选项。
接着，在新出现的层级2图标处右键，在弹出的选项中点击Layer Contents，将打开关于层级的选项。
选中刚才新增的F(Y3)列（此时选框中只会出现Y列，因而可判断软件会自动匹配其对应的X列而绘图），点击右箭头Add plot，将其添加加到Layer2中，点击OK确定。
完成添加之后，发现边框上方和右侧都只发生了坐标轴单位名称的更改，而没有出现新的数据。这是因为，坐标轴的范围我们还没有调整好。
5）调整Layer2的坐标轴范围。
我们将横坐标范围调整为5-95，以和Layer1中一致，而对于纵坐标，因为F(Y3)的最大值为528，因此，纵坐标的范围必须大于528才行，我们此时先设置了0-2400试一试。结果，图中出现了一条新的折线，但我们想要的是柱状图，而非折线。
6）折线图转换为柱状图。
双击折线，在打开的绘制细节面板中的左下方，将绘制类型改为Column/Bar，即可将折线图改为柱状图。
7）更改柱体粗细。
回顾我们第四篇中介绍的更改柱体粗细，此处方法与之一样，将Gap Between Bars（in %）改为100%，即可将柱体变为一根细线。
再调整下JCPDS柱体边框的粗细和颜色，如下图所示，柱体将变得更加明显。
8）继续调整Offset。
因为，JCPDS的柱状图和Layer1中的折线图重叠了，所以，需要继续调整Layer1中两个折线图的Offset。此处，我们将XRD1的Offset改为了2600，且将XRD2的Offset改为了7800。
同时，需调整Layer1的纵坐标范围，以将所有折线都完全框入。
9）修改边框。
因为XRD图一般不注重强度值，只观察是否有特定的峰出现，因此，两个Layer的纵坐标刻度都需去掉。
如下图所示，打开坐标轴修改面板后，在Tick Labels刻度标记子分页下，选中Left左侧刻度，将Show的勾选去掉，点击OK或Apply后，Layer1的纵坐标刻度将被去掉。同理，处理Layer2的纵坐标刻度。
接着，需要去掉主次刻度。
因为我们这里的两个Layer横坐标是相对应的，因此，可以将上边框的刻度、数值和标题也去掉，而纵坐标不关注强度值，所以将右边框的坐标轴刻度、数值和标题也去掉。那么，接下来的效果如下图所示。
那么，为什么不一开始就删掉呢，这是为了方便我们好调整两条折线和一组柱状图的相对位置。
那么，为什么不一开始就对三个数据同时画图呢，就不需要用到添加层级了。这是为了增加对Layer的介绍，同时，JCPDS卡片的强度值可能和我们测出来的XRD峰值差别太大而不在一个数量级上，因而不好调整他们之间的相对大小和位置。
10）添加符号。
此时，我们需要添加一些峰值处的标记符号，因此，需要添加文本。选则左侧工具栏的T，在图中左键点击，或是直接在图中右键点击，并选择Add Text，都可以给图中任意位置添加文本。
接着，再在文本框处右键，于弹出的选项中点击Symbol Map。
接着，选择一种符号，并点击Insert插入即可。
接着，选中当前符号之后，可在工具栏修改其颜色。注意，此时不要双击符号进入文本编辑模式选中符号，如果这样的话，只能改变正常字体的颜色，而不能改变符号的颜色。
继续复制几个符号，以完成整个XRD图的绘制。
为了美观，可适当缩窄横坐标范围。但是，要注意，两个层级的横坐标都需更改，以保持一致。
二、总结
回顾，此篇我们使用到的功能有：Y偏移堆叠线条的绘制、添加层级、新层级中添加数据、折线图转换为柱状图、调整Offset、去除坐标轴数值和刻度、添加符号并设置其颜色。
