ATE设备介绍

　　本文章主要对ATE测试设备、测试治具、测试探针、PCB测试点进行简单的介绍。

　　1.测试设备

　　常见的ATE测试设备有如下3款：

　　（1）GenRad 2287 ATE Tester (Vacuum Type)

 图1　GenRad 2287 ATE Tester

　　（2）Agilent 3070  ATE Tester (Vacuum Type)

图2　Agilent 3070  ATE Tester　

　　（3）TRI TR518FE  ATE Tester (Press Type)

 图3　TRI TR518FE  ATE Tester

　　2.测试治具

 　　常见的ATE治具有如下2种：

　　（1）GenRad ATE Fixture (Vacuum Type)

图4　GenRad ATE Fixture

　　（2）Agilent ATE Fixture (Vacuum Type)

 图5　Agilent ATE Fixture

　　3.测试探针

　　（1）根据探针的用途不同，探针可分为：PCB测试用探针，IC测试探针，高电流测试探针，同轴探针，电池探针，半导体探针等。
　　（2）根据探针最小值中心间距不同可以分为：39mil、50mil、75mil、100mil等探针。
　　（3）根据探针的头型不同可以分为：尖针、爪针、圆头针、平头针、杯型针等。

　　探针一般是安装在治具上的，探针的具体安装位置是依据PCB设计的测试点位置设定的，常见的探针外形结构如下图6所示。

 图6　常见探针的外形

　　测试探针示意图如下图7所示，探针的各部分（探头Plunger shaft、卡圈Retainer、弹簧Spring）在组装前，要经过要经过特殊的电镀处理，来决定其导电性、持久性、硬度及磨损阻抗等特性。

 图7　测试探针示意图

　　测试探针的组装示意图如下图8所示。

 图8　测试探针组装示意图

　　4.测试点

　　PCB板需要预留测试点，以便测试治具上的探针能接触到线路板的各信号位置点，以进行ATE测试，常见的测试点有：Test pad type、Dip pin type、Via hole type，如下图9所示。

图9　测试点类型

　　5.测试方案

　　ATE测试可分为非上电测试和上电测试，一般是先进行非上电测试完毕后才进行上电测试，具体测试项目顺序如下图10所示。

 图10　ATE测试顺序

　　（1）Short testing模型如下图11所示

 图11　Short testing mode

　　（2）Pins test的模型如下图12所示

 图12　Pins testing mode

 　　（3）Analog testing的模型图下图13所示。

 图13　Analog testing mode