2023年10月29日
Memory Bist
摘要： SRAMC主要是对SRAM进行控制 对于SRAM的逻辑,根据地址将数据存储到SRAM中,然后根据地址将SRAM中的数据读取出来 如何测试Memory,生产工艺原因造成的问题，采用DFT或者Bist测试方法 DFT - 在代码中加入测试逻辑,之后通过这部分逻辑对芯片进行测试 What is manuf 阅读全文
posted @ 2023-10-29 14:44 Icer_Newer 阅读(129) 评论(0) 推荐(0) 编辑