SoC scan implementation
- scan chain产生之前需要进行scan drc的过程,判断cell是不是能够串到scan chain上去
- mux-d scan cell(是最常用的scan cell),还有其他的scan cell
- measure POs的动作,可以发生在capture PPOs之后吗?为什么?
PIs,PPIs输入稳定之后,通常情况下先measure POs(PIs和PPIs共同作用的结果),先进行capture PPOs动作之后,相当于更改了PPI的值(PPI就是scan cell的q端,PPO就是scan cell的d端),scan cell d端数据发生变化,q端数据发生变化,PPIs会发生变化,POs会发生变化(PIs和capture PPOs之后新的PPIs共同作用的结果) - 详细分析为什么lockup cell能解决clock skew的问题?
clock latency不同,clock到达register的时间是不同的,使用lockup cell可以保证时钟的行为,scan chain上前面的register时钟来的晚
How to consider scan in the project?
Pin Mux
- function mode和dft mode下进行IO的复用,不同mode下,使用的pIO是不同的;
- 芯片在同一时刻,只能工作在一个mode下
- 考虑ATE基台的pin数量和SoC芯片的测试的pin数据量,进行scan
- mode select IO/scan enable/scan clk/scan input
RTL - PinMux
Output IO
Input IO
Clock Structure
