WUH721816AL硬盘fio测试不达标问题

【问题描述】

　　WUH721816AL（西数16T SATA盘）硬盘，在关闭写缓存的情况下，使用fio测试256K 1m顺序写时存在性能低的问题（实测数据约80mb/s在客户标准测试满足200MB/s通过）

【原因分析】

　　机械盘对单个fio下发多job测试性能没有offset_increment=int参数时不合理，因为单个fio下发多个job任务顺序写时，两个任务都是从初始地址开始写，这样会出现覆盖写导致实际写入速度降低；同时固件也会根据缓存里的数据情况进行优化，比如放弃之前的写入命令，直接执行最后一次，这样可以提高效率，但大块数据会导致缓存里的写入命令比较少，就会可能发生重复写入，降低了效率，从而出现当数据块越大，性能出现跌落的情况，小数据块也会收到影响，只是影响不大，并且这和各家的固件算法不同；（cache是disable的情况盘会转让PWC模式，会有2M大小的缓存，保证突然断电数据丢失）

　　测试数据：

　　a、不带offset_increment=int参数测试 

bs大小	西数16T顺序写性能MB/s
64k	255
128k	260
256k	92
512k	95
1024k	89

        b、带offset_increment=100GB参数测试

bs大小	西数16T顺序写性能MB/s
256k	204
512k	260
1024k	260

 

【解决方案】

　　合理的使用单个fio测试多job的顺序写性能，要保证这些job不能同时写入相同的地址，所以需要加上-offset_increment=100GB参数，使得每个job写的地址不同，这样实际的性能就是真实性能