摘要： 1，pulse view 使用pattern中转的 CSV 文档中的CH的符号需要小写。 2，LCD IC测试source 时。其中的一种bist 模式测试。可以从第0阶一直到第256阶逐级递增。两节之间进行帧翻转来测试每阶的POS和NEG。 为了更好的控制采样一般会 外灌时钟进行控制。因为bist 阅读全文