1，pulse view 使用pattern中转的 CSV 文档中的CH的符号需要小写。

2，LCD IC测试source 时。其中的一种bist 模式测试。可以从第0阶一直到第256阶逐级递增。两节之间进行帧翻转来测试每阶的POS和NEG。

     为了更好的控制采样一般会 外灌时钟进行控制。因为bist模式存在是自动翻转的问题，在采样FLAG 插入采样点的时间会导致后面的帧翻转相对时间改变。

可以在采样时间时把时钟停掉。进行采样。不引入采样时间。

3，针卡供应商

FormFactor 美国 国内销售公司，美博科技有限公司。

Tecnoprobe SpA 意大利 国内销售公司 泰那普（无锡）半导体有限公司

MJC  日本 国内销售公司 昆山麦克芯微电子有限公司

国内

强一半导体

道格特

矽利康

MPI

领先