fault coverage enhancement

在pseudo-random test中，由于random pattern resistant的特性，fault coverage不是sufficient的，

所以会有一些办法来进行coverage的提高：

1)test point insertion;

2)mixed-mode BIST;

3)hybrid BIST;

前两种是in-field coverage enhancement，后一种是manufacturing coverage enhancement

Test point inserting通过增加control/observe point来提高coverage，防止RP-resistant

Mixed-mode BIST通过在pseudo-random pattern中加入一些deterministic pattern来提高coverage

hybrid BIST是在tester上通过BIST和external testing的混合方式，通过deterministic data和pseudo-random

pattern的使用，来提高coverage。

 

Test Point Insertion

control point一般连接到primary input或scan cell output上

observation point一般连接到primary output或scan cell input上 

Test point可以使用multiplexer或者AND_OR门电路搭建：

通过test point的插入不仅可以测试到没有cover的点，还能提高某个fault被测出来的概率：

 

Test Point Placement

由于test point的area和performance的消耗，test point的位置一般放在能够最大化coverage，最小化test point数量的地方.

目前有三种方式来进行处理：

1)Fault simulation，这种方法要求知道TPG，从而可以定位到很难cover到的fault的点，然后通过一个covering algorithm来选择

最好的点，放最少的test point来实现最高的coverage

2)Testability measure，通过提高detection probability，叫做controllability/observability program testability measure

迭代的增加test point来使得testability得到满足。防止RP-Reasistant。这种方式可以通过probabilistic fault simulation来在RTL阶段

就进行test point的插入，optimizing the design.

3)由于test point对timing的影响，还有一种是Timing-driven test point.

 

Mixed-Mode BIST

Test point insertion的另一个缺点是必须modifying the circuit under test.

Mixed-mode BIST，通过pseudo-random pattern来detect RP-testable faults，另一些deterministic patterns来detect RP-resistant faults.

三种设计方法：

1)       ROM Compression，最简单的方法，在ROM中保存deterministic patterns

2)       LFSR Reseeding，直接保存LFSR seeds来产生test patterns.

3)       Embedding Deterministic Patterns，将pseudo-random patterns中并不会detect new faults的pattern通过mapping logic转换为

Deterministic pattern

 

Hybrid BIST

在manufacturing fault coverage enbancement技术中，deterministic pattern从tester输入，并且tester中的pattern可能是被compressed